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Microscopio a forza atomica laser Raman
Macchina integrata del microscopio atomico di forza laser Raman
Dettagli del prodotto

Descrizione del prodotto:

Questo strumento è un dispositivo che integra il microscopio a forza atomica, il microscopio ottico e lo spettrometro laser Raman, una combinazione perfetta di tutte e tre le tecnologie. Il microscopio a forza atomica e lo spettrometro di Raman possono essere utilizzati separatamente per caratterizzare e analizzare la morfologia superficiale, la dimensione delle particelle, la rugosità e le proprietà spettrali di Raman del nanomateriale per fornire informazioni più complete sul campione e fornire immagini microscopiche nitide. Tale integrazione consente agli utenti di migliorare la produttività e dedicare più tempo alla raccolta e all'analisi dei dati, senza doversi preoccupare dell'onerosa operazione degli strumenti, per realizzare l'analisi in situ dei campioni.

Caratteristiche:

1.Microscopio ottico, microscopio a forza atomica e spettrometro Raman integrati

2.Allo stesso tempo, il microscopio ottico, la funzione di imaging del microscopio a forza atomica e la funzione di analisi spettrale di Raman non influenzano l'uno l'altro.

3.Possibilità di misurazione ottica 2D e di misurazione 3D con microscopio a forza atomica

4.Testa di rilevamento laser e banco di scansione del campione integrati, struttura molto stabile e resistente alle interferenze

5.Posizionamento di precisione della sonda, regolazione semplice dell'allineamento della macchia laser

6.Un campione azionato a un solo asse si avvicina automaticamente verticalmente alla sonda, rendendo la punta dell'ago verticale alla scansione del campione

7.Modalità di inserimento intelligente per la rilevazione automatica della ceramica a pressione controllata dal motore, per proteggere le sonde e i campioni

8.Sistema di posizionamento ottico ultra-alto per il posizionamento preciso della sonda e dell'area di scansione del campione

9.Editor utente integrato per la correzione non lineare dello scanner con una precisione superiore alla nanocaratterizzazione e alla misurazione98%

10.Possibilità di inserire contemporaneamente tre moduli di rilevamento dello spettrometro Raman di diverse lunghezze d'onda e di commutare tra diversi spettrometri sul software.

11.Il rilevamento automatico rapido di Laman di lunghezze d'onda multiple è possibile.

12.supportabile405nm532nm633nm785nm830nm1064nmAspetta più lunghezze d'onda

Parametri tecnici

Microscopio di forza atomica:

Modalità di lavoro

Modalità contatto, modalità tocco

Occhiali ottici

10X

Modalità di selezione

Frizione/forza laterale, amplitudine/fase, forza magnetica/elettricità statica

Modalità di illuminazione

Sistema di illuminazione LED Kohler

Curva dello spettro di forza

Curva di forza F-Z, curva RMS-Z

Focalizzazione ottica

Mettere a fuoco manualmente

Gamma di scansione XY

50 x 50um, opzionale 20 x 20um, 100 x 100um

telecamera

Sensore CMOS da 5 megapixel

Scala di scansione Z

5um, opzionale 2.5um, 10um

Display

Display a schermo piatto da 10,1 pollici con funzione di misurazione dell'immagine

Risoluzione di scansione

Orizzontale 0.2nm, verticale 0.05nm

Velocità di scansione

0,6 Hz~30 Hz

Dimensione del campione

Φ≤68mm,H≤20mm

Angolo di scansione

0~360°

Itinerario della tabella di esempio

25×25 mm

Ambiente operativo

Sistema operativo Windows XP/7/8/10

Obiettivo ottico

Obiettivo apocromatico a campo piatto 5X/10X/20X/50X

interfaccia di comunicazione

USB2.0/3.0

Spettroscopia laser Raman:

Gamma spettrale Raman

200-3600cm-1

potere di risoluzione

< 15cm-1@25 μm fessura

Laser

532 ± 1nm, larghezza di linea ≤ 0,2nm

Stabilità della potenza laser

≤3% P-P(@2hrs)

potenza di uscita

0-100mW regolabile

Profondità di taglio laser del filtro

OD8

temperatura di lavoro

0-40℃

Umidità di lavoro

5-80%

Durata della vita del laser

5000ore

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