Descrizione del prodotto:
Questo strumento è un dispositivo che integra il microscopio a forza atomica, il microscopio ottico e lo spettrometro laser Raman, una combinazione perfetta di tutte e tre le tecnologie. Il microscopio a forza atomica e lo spettrometro di Raman possono essere utilizzati separatamente per caratterizzare e analizzare la morfologia superficiale, la dimensione delle particelle, la rugosità e le proprietà spettrali di Raman del nanomateriale per fornire informazioni più complete sul campione e fornire immagini microscopiche nitide. Tale integrazione consente agli utenti di migliorare la produttività e dedicare più tempo alla raccolta e all'analisi dei dati, senza doversi preoccupare dell'onerosa operazione degli strumenti, per realizzare l'analisi in situ dei campioni.
Caratteristiche:
1.Microscopio ottico, microscopio a forza atomica e spettrometro Raman integrati
2.Allo stesso tempo, il microscopio ottico, la funzione di imaging del microscopio a forza atomica e la funzione di analisi spettrale di Raman non influenzano l'uno l'altro.
3.Possibilità di misurazione ottica 2D e di misurazione 3D con microscopio a forza atomica
4.Testa di rilevamento laser e banco di scansione del campione integrati, struttura molto stabile e resistente alle interferenze
5.Posizionamento di precisione della sonda, regolazione semplice dell'allineamento della macchia laser
6.Un campione azionato a un solo asse si avvicina automaticamente verticalmente alla sonda, rendendo la punta dell'ago verticale alla scansione del campione
7.Modalità di inserimento intelligente per la rilevazione automatica della ceramica a pressione controllata dal motore, per proteggere le sonde e i campioni
8.Sistema di posizionamento ottico ultra-alto per il posizionamento preciso della sonda e dell'area di scansione del campione
9.Editor utente integrato per la correzione non lineare dello scanner con una precisione superiore alla nanocaratterizzazione e alla misurazione98%
10.Possibilità di inserire contemporaneamente tre moduli di rilevamento dello spettrometro Raman di diverse lunghezze d'onda e di commutare tra diversi spettrometri sul software.
11.Il rilevamento automatico rapido di Laman di lunghezze d'onda multiple è possibile.
12.supportabile405nm、532nm、633nm、785nm、830nm、1064nmAspetta più lunghezze d'onda
Parametri tecnici
Microscopio di forza atomica:
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Modalità di lavoro |
Modalità contatto, modalità tocco |
Occhiali ottici |
10X |
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Modalità di selezione |
Frizione/forza laterale, amplitudine/fase, forza magnetica/elettricità statica |
Modalità di illuminazione |
Sistema di illuminazione LED Kohler |
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Curva dello spettro di forza |
Curva di forza F-Z, curva RMS-Z |
Focalizzazione ottica |
Mettere a fuoco manualmente |
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Gamma di scansione XY |
50 x 50um, opzionale 20 x 20um, 100 x 100um |
telecamera |
Sensore CMOS da 5 megapixel |
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Scala di scansione Z |
5um, opzionale 2.5um, 10um |
Display |
Display a schermo piatto da 10,1 pollici con funzione di misurazione dell'immagine |
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Risoluzione di scansione |
Orizzontale 0.2nm, verticale 0.05nm |
Velocità di scansione |
0,6 Hz~30 Hz |
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Dimensione del campione |
Φ≤68mm,H≤20mm |
Angolo di scansione |
0~360° |
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Itinerario della tabella di esempio |
25×25 mm |
Ambiente operativo |
Sistema operativo Windows XP/7/8/10 |
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Obiettivo ottico |
Obiettivo apocromatico a campo piatto 5X/10X/20X/50X |
interfaccia di comunicazione |
USB2.0/3.0 |
Spettroscopia laser Raman:
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Gamma spettrale Raman |
200-3600cm-1 |
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potere di risoluzione |
< 15cm-1@25 μm fessura |
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Laser |
532 ± 1nm, larghezza di linea ≤ 0,2nm |
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Stabilità della potenza laser |
≤3% P-P(@2hrs) |
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potenza di uscita |
0-100mW regolabile |
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Profondità di taglio laser del filtro |
OD8 |
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temperatura di lavoro |
0-40℃ |
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Umidità di lavoro |
5-80% |
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Durata della vita del laser |
5000ore |
